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| WaveExpert100H | |
| 帯域 | 20〜100GHz |
| 立ち上がり時間 | 4〜18ps |
| チャンネル数 | 1〜4ch |
| 最高サンプリング 速度（/ch） |
1MS/s(シーケンシャル) |
| RMSジッタ | 1.2ps rms（代表値）±遅延の1ppm |
| トリガ帯域 | 5GHz/13.5GHz |
| モデル名 | |
| WE-CIS | サンプリング・オシロスコープ・メインフレーム |
| WE-HCIS | 高精度CISタイムベース・オプション |
| WE-XXL | 510Mワード・メモリ・オプション |
| WE-SDA | シリアル・データ/ジッタ解析オプション |
| EYEDR | EyeDoctor解析オプション |
| EYEDR_VP | VirtualProbingオプション |
| EYEDR_EQ | EquolizerEmulationオプション |
モジュール各種
| モデル名 | 帯域 | |
| SE-100 | 100GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-70 | 70GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-50 | 50GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-30 | 30GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| ST-20 | 20GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール（TDR対応） |
| SO-50 | 50GHz | オプティカル・サンプリング・モジュール |
| SO-25 | 28GHz | オプティカル・サンプリング・モジュール |
| SO-10 | 10GHz | ハイ・ゲイン・オプティカル・サンプリング・モジュール （プラグイン型リファレンス・レシーバ付） |
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世界初の100GHz帯域を実現したサンプリング・モジュールSE-100では、HHI社のO/Eを取り付けてフェムト秒レーザーのパルスを計測して得られたパルス波形をFFTして装置の周波数特性を確認することができます。100GHz以上でも十分な応答があることが見て取れます。
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12万8千倍 ロングメモリで波形取り込み CISモードでは、長いパターンでも簡単にロックできるので、1パターン分波形を取り込んで、ズーム機能で波形の詳細を観測できます。 |
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75倍 超高速アイパターン試験 CISモードでは、10MS/sの超高速サンプリングにより300万ポイントのアイパターンも1秒以下で捕捉、表示ができます。 |
WaveExpert シリーズは、広帯域・高精度とリアルタイム機器の速度・柔軟性を初めて併せもったサンプリング・オシロスコープです。
これらのオシロスコープは、NRO（Near Real Time
Oscilloscope）と呼ばれる新しいクラスを切り開く最初の製品で、従来のサンプリング･オシロスコープでは逃れられない、遅くて緩慢なレスポンスなどの制限を取り除き、リアルタイム・オシロスコープに近い感覚で使えます。
WaveExpertシリーズは、ロングメモリ、高速捕捉、操作性に優れたGUI、強力な解析ツールを大きな特長としています。また、WaveExpertシリーズは、レクロイの革新的なテクノロジであるATA*（Accelerated Throughput
Architecture 技術資料
｢jump the power curve（PDF）｣参照。）テクノロジが採用されており、100
GHzという広帯域に加え、従来のサンプリング･オシロスコープと比較して100倍速い信号捕捉速度、125,000倍長いメモリ長（最大510Mワード）をサポートしています。
レクロイのATAテクノロジは、従来のサンプリング・オシロスコープに比べて非常に高いスループットを実現したほか、従来のリアルタイム･オシロスコープでのみ利用可能な、信号解析を広帯域の信号に対しても実行可能にした最先端のテクノロジです。
ATAテクノロジの基盤には、レクロイ独自のCIS（Coherent Interleaved
Sampling：コヒーレント・インターリーブド・サンプリング）モードがあります。CISタイムベース（特許出願中）では、シリアル・パターン・トリガを使用しなくても、非常に長いシリアル・データ波形の捕捉と表示を高速に行うことができます。最大捕捉速度は10
MS/sですが、この値は同じクラスの既存の機器と比較して約100倍の速度を意味します（標準は１MS/s）。
WaveExpertシリーズは、モジュール型の機器であり、最大4個の捕捉モジュールがサポートされます。
また、オプションとして、ソース･モジュールも利用できます。ソース･モジュールでは、よく使われるパターン長とビット速度のPRBSシーケンスが生成できます。このPRBSシーケンスはデバイスのテストに使用できます。
追加のTDR用モジュールは、立ち上がり時間が20 ps未満のTDRパルスを出力できますが、この値は既存の機器と比較して30%も速度が向上しています。したがって、WaveExpertシリーズはTDR（Time
Domain Reflectometry）の測定にも最適です。
WaveScan（不良信号検索機能）標準装備
稀に起きる不良信号を検索、拡大表示します。
検出された不良信号の一覧表示、ヒストグラム、重ね書き表示などが可能です。(WaveScan詳細ページ)
| LeCroy Resources | ||
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WaveExpert
100Hカタログ (2008年1月発行) |
PDF File 2.9MB |
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Jump the Power Curve 高速・広帯域・ロングメモリを実現した2つの革新的テクノロジ (2005年6月発行 LJDN-CT-GE-0174-0001) |
PDF File 2MB |
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エレクトロニクス アップデイト 【2005年07月号】 サンプリング・オシロスコープで10MS/sを実現した画期的タイムベースCIS(Coherent Interleaved Sampling)の解説 |
PDF File 400K |
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エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-1】 オシロスコープの性能を飛躍的に高めるDBI（Digital Bandwidth Interleave）技術次期シリアル・インタフェースの転送速度に対応 |
PDF File 450K |
